美國easyXAFS公司推出的x射線近邊吸收譜（XAFS/XES），采用*的X射線單色器設計，無需同步輻射光源，在常規實驗室環境中實現X射線吸收精細結構測量和分析，提供XAFS和XES兩種測量模式，并輕松相互切換。以*的靈敏度和光源質量，廣泛應用在催化、電池等研究域，實現對元素的測定、定量和價態分析等。

美國easyXAFS公司推出的X射線吸收精細結構譜（XAFS/XES），采用*的X射線單色器設計，無需同步輻射光源，在常規實驗室環境中實現X射線吸收精細結構測量和分析，提供XAFS和XES兩種測量模式，并輕松相互切換。以*的靈敏度和光源質量，廣泛應用在催化、電池等研究域，實現對元素的測定、定量和價態分析等。

美國easyXAFS公司推出的臺式X射線吸收精細結構譜儀（XAFS/XES），采用*的X射線單色器設計，無需同步輻射光源，在常規實驗室環境中實現X射線吸收精細結構測量和分析，提供XAFS和XES兩種測量模式，并輕松相互切換。以*的靈敏度和光源質量，廣泛應用在催化、電池等研究域，實現對元素的測定、定量和價態分析等。