新一代低電壓透射電子顯微鏡-LVEM 25E是Delong公司推出的新一代低電壓透射電子顯微鏡，配備了五種成像和分析模式，把實驗室材料表征研究推向一個新高度。超快的樣品切換和增強的自動化功能使LVEM 25E成為常規成像應用中十分實用且易用的工具。新一代低電壓透射電子顯微鏡-LVEM 25E能從標準制備的樣品中獲得對比度好、細節豐富的圖像，并能在減少染色的情況下獲得同等細節水平的圖像。

LVEM5透射電子顯微鏡從根本上區別于傳統電鏡，尺寸較傳統電鏡縮小了90%，對放置環境無嚴格要求，無需任何外置冷卻設備，可以安裝用戶所需的任意實驗室或辦公室桌面。

attolight CL-STEM陰熒光分析系統，可以實現信噪比和高的光譜分辨率陰發光檢測器。它可以幫助研究人員實現對單個納米粒子，量子點或原子缺陷測量進行超高分辨率的圖像和高光譜圖譜的檢測。

SCL-Sensor.Tech公司成立于2004年，公司的主要業務是制造和銷售硅基壓電阻式自感應AFM探針。這種全壓電式懸臂，在AFM、納米、力測量等傳感應用域都有全新的應用。全新壓電阻自感應懸臂梁AFM探針安裝了個全壓電電阻式的惠斯通電橋，兩個可變電阻在懸臂上，兩個在晶片上可以直接測量懸臂的信號，從而避免了光學技術對空間要求。

美國RHK Technology公司在范圍內*推出了超高真空閉環無液氦低溫STM/qPlusAFM系統。該系統具有良的隔震設計，低的漂移，以及電子譜學性能，可以輕易獲得低溫下的原子分辨率的掃描顯微圖像。