殘余應力分析儀-便攜式

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μ-X360s殘余應力分析儀
X射線是表面殘余應力測定技術中為數不多的無損檢測法之，是根據材料或制品晶面間距的變化測定應力的，至今仍然是研究得較為廣泛、深入、成熟的殘余應力分析和檢測方法之，被廣泛的應用于科學研究和工業生產的各域。2012年日本Pulstec公司開發出基于全二維探測器技術的殘余應力分析儀——μ-X360n，將用X射線研究殘余應力的測量速度和精度推到了個全新的高度，設備推出不久便得到業界好評

更新時間：2023-04-25型號：μ-X360s瀏覽量：2437

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μ-X360s小而輕的便攜式X射線殘余應力分析儀
X射線是表面殘余應力測定技術中為數不多的無損檢測法之，是根據材料或制品晶面間距的變化測定應力的，至今仍然是研究得較為廣泛、深入、成熟的殘余應力分析和檢測方法之，被廣泛的應用于科學研究和工業生產的各域。2012年日本Pulstec公司開發出基于全二維探測器技術的新代X射線殘余應力分析儀——μ-X360n，將用X射線研究殘余應力的測量速度和精度推到了個全新的高度，設備推出不久便得到業界好評

更新時間：2023-04-25型號：μ-X360s瀏覽量：5163

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