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                  快速可靠的新代全二維面探殘余應力分析儀再獲業界認可!

                  發布時間: 2022-05-05  點擊次數: 1016次

                  X射線殘余應力分析方法和技術,因其具有理論成熟、數據可靠、無損檢測等勢,在各種金屬加工域具有廣泛的應用。在過去的幾十年時間中,市面上的X射線殘余應力分析儀主要采用的是基于零維(點)探測器和維(線)探測器技術的設備。2012年日本Pulstec公司成功發布了基于新型圓形全二維(面)探測器技術的新代X射線殘余應力分析儀設備(μ-X360系列)。μ-X360系列的相關設備具有技術進、測試精度高、體積迷你、重量輕、便攜性等點,不僅可以在實驗室使用,還可以方便攜帶至非實驗室條件下的各種現場或戶外進行原位的殘余應力測量,這使得X射線殘余應力分析方法和技術在應用上實現了更進步的突破!

                   

                  在工業應用中,參考標準作為指導實踐的重要依據直以來都備受關注。繼日本材料學會(The Society of Material Science, Japan)于2020年2月15日發布JSMS-SD-14-20《通過cosα方法測量X射線應力的標準(鐵素體鋼)》標準后,日本無損檢測協會(The Japanese Society of Non-Destructive Inspection, JSNDI)也于近期正式頒布了全·球部將cosα方法應用于無損檢測域的標準《cosα法X射線應力測定通則》(標準號:NDIS 4404:2021),我們相信該標準的頒布對于我國今后相關的企業標準、地方標準及國家標準的制定都能起到積的參考作用,為相關行業的無損檢測實踐工作提供幫助和啟發!

                   

                   

                  新代全二維面探X射線殘余應力分析儀

                  (制造商:日本Pulstec公司   型號:μ-X360s)

                   

                  無損檢測是指在不影響被檢測對象使用性能且不傷害被檢測對象內部組織的前提下,用材料內部結構異?;蛉毕荽嬖谝鸬臒?、聲、光、電、磁等反應的變化,對試件內部及表面的結構、狀態及缺陷的類型、數量、形狀、性質、位置、尺寸、分布及其變化進行檢查和測試的方法。種設備檢測行業其檢測對象多為在役狀態的大型構件或設備,與實驗室檢測不同多使用無損檢測的手段;與傳統方法及設備相比,基于cosα方法的Pulstec μ-X360s殘余應力分析儀的突出勢在于采用單次低功率短時X射線入射即可得到可靠的殘余應力檢測結果,且設備小巧、重量輕,別適用于對于可移動性及便攜性要求較高的現場無損檢測。自2015年Quantum Design中國將該設備引進至國內,我們已在全國各地多家種設備檢測機構完成該設備的銷售與安裝,如:中國種設備檢測研究院、天津市種設備監督檢驗技術研究院、廣東省種設備檢測研究院及福建省種設備檢驗研究院等,近期,我們又成功完成了浙江省種設備科學研究院的設備安裝并成功驗收,Pulstec μ-X360s殘余應力分析儀的便攜性及易用性得到了客戶的高度認可。

                   

                  目前,Pulstec已在近20個國家與地區安裝了超過500臺μ-X360系列殘余應力分析儀,用戶不僅遍布于諸多大學及研發實驗室,也遍布于各大主要工業制造域的企業中。通過與客戶的密切合作,Pulstec陸續開發出各種解決方案以滿足客戶的需求。

                   

                   

                  近日,Pulstec與德國Sentenso(Sentenso GmbH)公司合作,推出了工業機器人搭載殘余應力分析儀的新解決方案,實現了X射線殘余應力分析儀的自主運動、自主檢測、自動繪制應力分布云圖以及三維振蕩等功能。該系統可采用Kuka公司(Kuka AG)或UR公司(Universal Robots)的工業機器人,通過用夾具將Pulstec μ-X360s的探頭部分搭載于工業機器人手臂上,得益于Pulstec的小質量探頭,工業機器人的有效載荷僅需4kg即可滿足測試需求。

                   

                  相關產品:

                  1、小而輕的便攜式X射線殘余應力分析儀-μ-X360s

                  https://www.chem17.com/product/detail/26110832.html

                   

                   

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